半导体集成电路-驱动器测试方法
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高新技术企业
GB/T 42975-2023
半导体集成电路 驱动器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10806-1996
半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
SJ/T 10802-1996
半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 42838-2023
半导体集成电路 霍尔电路测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43061-2023
半导体集成电路 PWM控制器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10881-1996
半导体集成音响电路电平指示驱动器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43040-2023
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10801-1996
半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 42970-2023
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-06-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200航天系统和操作装置
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2018-02-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ 50597/56-2002
半导体集成电路JW920型PIN驱动器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2002-01-31
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】
GB/T 42848-2023
半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】L56电子元器件
- 【ICS分类】31.200
GB/T 43226-2023
宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】V25半导体集成电路
- 【ICS分类】49.140
SJ/T 11702-2018
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2018-02-09
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
