半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法

2025-01-01 10:06:00 29 阅读 检测标准

GB/T 4298-1984

半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1984-03-28
  • 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
  • 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件

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