集成电路-脉冲抗扰度测量-第2部分：同步瞬态注入法
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GB/T 43034.2-2024
集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43034.3-2023
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC TS 62215-2:2007
集成电路脉冲抗扰度测量第2部分:同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2007-09-10
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42968.8-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42968.2-2024
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS DD IEC/TS 62215-2:2007
集成电路 脉冲抗扰度的测量 同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2007-11-30
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
IEC 62215-3:2013
集成电路 - 脉冲抗扰度测量 - 第3部分:非同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2013-07-17
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20214711-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20214060-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-10-13
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
DIN IEC 62215-3-DRAFT
文件草案.集成电路.脉冲抗扰度测量.第3部分:非同步瞬态注入法（IEC 47A/839/CD:2010）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2010-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
20204839-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-12-24
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS 10/30209944 DC
英国标准EN 62215-3 集成电路 脉冲抗扰度的测量 第三部分 非同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2010-02-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
DIN EN 62215-3
集成电路.脉冲抗扰度测量.第3部分:非同步瞬态注入法（IEC 62215-3-2013）；德文版EN 62215-3:2013
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2014-04-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
BS 05/30137850 DC
IEC 62215-2 集成电路 脉冲抗扰度的测量 第二部分 脉冲注入法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2005-08-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
20214061-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分：工作台法拉第笼法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-10-13
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
IEC TS 62132-9:2014
集成电路电磁抗扰度测量第9部分:辐射抗扰度测量表面扫描法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2014-08-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
IEC 62132-8:2012
集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第8部分:辐射抗扰度测量 - IC带状线法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2012-07-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
IEC 62132-2:2010
集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第2部分:辐射抗扰度测量 - 温度计和宽带电池法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2010-03-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
DIN IEC/TS 62132-9
集成电路电磁抗扰度测量第9部分:辐射抗扰度测量表面扫描法（IEC/TS 62132-9-2014）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2015-08-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
IEC 62132-4:2006
集成电路 - 电磁抗扰度测量150 Khz至1 Ghz - 第4部分:直接Rf功率注入法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2006-02-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
