集成电路-脉冲抗扰度测量-第3部分：非同步瞬态注入法
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-01 12:40:22 点击数：
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GB/T 43034.3-2023
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 62215-3:2013
集成电路 - 脉冲抗扰度测量 - 第3部分:非同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2013-07-17
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43034.2-2024
集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
DIN IEC 62215-3-DRAFT
文件草案.集成电路.脉冲抗扰度测量.第3部分:非同步瞬态注入法（IEC 47A/839/CD:2010）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2010-05-01
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
BS 10/30209944 DC
英国标准EN 62215-3 集成电路 脉冲抗扰度的测量 第三部分 非同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2010-02-08
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
DIN EN 62215-3
集成电路.脉冲抗扰度测量.第3部分:非同步瞬态注入法（IEC 62215-3-2013）；德文版EN 62215-3:2013
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2014-04-01
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
IEC TS 62215-2:2007
集成电路脉冲抗扰度测量第2部分:同步瞬态注入法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2007-09-10
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20214060-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-10-13
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20204839-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-12-24
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS 05/30137850 DC
IEC 62215-2 集成电路 脉冲抗扰度的测量 第二部分 脉冲注入法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2005-08-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
IEC 62132-4:2006
集成电路 - 电磁抗扰度测量150 Khz至1 Ghz - 第4部分:直接Rf功率注入法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2006-02-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
DIN EN 62132-6-DRAFT
文件草稿-集成电路-电磁抗扰度测量-第6部分:局部注入喇叭天线（LIHA）法（IEC 47A/862/CD:2010）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2011-03-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS 03/105045 DC
IEC 62132-3 Ed.1 集成电路 电磁抗扰度测量 150 KHz至1 GHz 第三部分 传导抗扰度的测量 大电流注入法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2003-08-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN IEC 62215-2-DRAFT
文件草案.集成电路.脉冲抗扰度测量.第2部分:快速脉冲注入法（IEC 47A/730/CD:2005）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2005-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 62132-3
集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰度的测量.第3部分:大电流注入（BCI）法（IEC 62132-3-2007）；德文版EN 62132-3:2007
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2008-04-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 62132-4
集成电路.150 kHz至1 GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法（IEC 62132-4-2006）；德文版EN 62132-4:2006
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2006-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
IEC 62132-3:2007
集成电路 - 电磁抗扰度测量 150 kHz至1 GHz - 第3部分:大电流注入（BCI）方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2007-09-26
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
GB/T 42968.8-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
GB/T 42968.2-2024
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
GB/T 42968.1-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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