半导体器件-集成电路-第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范-第一篇：内部目检要求
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-01 12:42:50 点击数：
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GB/T 43035-2023
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 8976-1996
膜集成电路和混合膜集成电路总规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 12842-1991
膜集成电路和混合膜集成电路术语
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1991-04-28
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-08-23
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 16465-1996
膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用能力批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574.20-2006
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 20515-2006
半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-10-10
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 15138-1994
膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1994-06-25
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 16466-1996
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用能力批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2000-01-03
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 2900.66-2004
电工术语 半导体器件和集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2004-05-10
- 【CCS分类】K04基础标准和通用方法
- 【ICS分类】01.040.29电气工程 (词汇)
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10455-2020
厚膜混合集成电路用铜导体浆料
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2020-12-09
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】13.060.30污水
SJ 20758-1999
半导体集成电路CMOS门阵列器件规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1999-11-10
- 【CCS分类】微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 13062-1991
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1991-07-06
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-03-31
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 12750-1991
半导体集成电路分规范 (不包括混合电路)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1991-03-21
- 【CCS分类】L55
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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