微束分析-分析电子显微术-层状材料截面像中界面位置的确定方法

2025-01-01 14:40:15 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

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ISO认证

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高新技术企业

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GB/T 43087-2023

微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-09-07
  • 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
  • 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法

BS ISO 20263:2017

微束分析 分析电子显微镜 分层材料横截面图像中界面位置的确定方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2018-01-04
  • 【CCS分类】基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】物理化学分析方法

ISO 20263:2024

微束分析 - 分析透射电子显微镜 - 分层材料横截面图像中界面位置的测定方法

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2024-11-06
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法

ISO 20263:2017

微束分析 - 分析透射电子显微镜 - 分层材料横截面图像中界面位置的测定方法

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2017-12-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法

20241617-T-469

微束分析 体电子显微术 生物材料的聚焦离子束扫描电子显微镜三维成像方法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2024-05-31
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.50有关分析化学的其他标准

20231342-T-469

微束分析 透射电子显微术 聚合物复合材料超薄切片制备方法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-01
  • 【CCS分类】G04
  • 【ICS分类】71.040.99