微束分析-分析电子显微术-金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 43088-2023
微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
GB/T 43883-2024
微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-04-25
- 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.99有关分析化学的其他标准
GB/T 43610-2023
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
