非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
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高新技术企业
GB/T 4326-2006
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-07-18
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
20233951-T-610
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 4326-1984
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1984-04-12
- 【CCS分类】H21
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
ASTM F76-08(2016)
测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2016-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F76-08(2016)e1
测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2016-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F76-08
测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2008-06-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F76-86(1996)e1
测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】1986-10-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体材料
ASTM F76-86(2002)
测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】1986-10-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045
