非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

原创来源:北检院    发布时间:2025-01-02 00:13:26    点击数:

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GB/T 4326-2006

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2006-07-18
  • 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
  • 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合

20233951-T-610

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合

GB/T 4326-1984

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1984-04-12
  • 【CCS分类】H21
  • 【ICS分类】77.040金属材料试验

ASTM F76-08(2016)

测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2016-05-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

ASTM F76-08(2016)e1

测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2016-05-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

ASTM F76-08

测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2008-06-15
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

ASTM F76-86(1996)e1

测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】1986-10-31
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】半导体材料

ASTM F76-86(2002)

测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】1986-10-31
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.045

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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