三维集成电路-第2部分:微间距叠层芯片的校准要求

2025-01-02 13:09:55 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

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ISO认证

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高新技术企业

高新技术企业

GB/T 43536.2-2023

三维集成电路 第2部分:微间距叠层芯片的校准要求

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

IEC 63011-2:2018

集成电路.三维集成电路.第2部分:具有细间距互连的叠层模具的对准

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2018-11-28
  • 【CCS分类】微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 44775-2024

集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-10-26
  • 【CCS分类】L55
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学