微束分析-分析电子显微术-线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
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CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 43610-2023
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
ISO 19214:2024
微束分析 分析电子显微镜 用透射电子显微镜测定纳米晶体表观生长方向的方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2024-10-16
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
ISO 19214:2017
微束分析 - 分析电子显微镜 - 通过透射电子显微镜测定线状晶体的表观生长方向的方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2017-04-25
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
GB/T 35098-2018
微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-05-14
- 【CCS分类】G04电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 18907-2013
微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-07-19
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
GB/T 43748-2024
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】N33基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 34002-2017
微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-07-12
- 【CCS分类】G04电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 43088-2023
微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
GB/T 43883-2024
微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-04-25
- 【CCS分类】N33
- 【ICS分类】71.040.99有关分析化学的其他标准
20231342-T-469
微束分析 透射电子显微术 聚合物复合材料超薄切片制备方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.99有关分析化学的其他标准
20231333-T-469
微束分析 分析电子显微术 电子能量损失谱能量分辨率的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
ISO 20263:2024
微束分析 - 分析透射电子显微镜 - 分层材料横截面图像中界面位置的测定方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2024-11-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
KS D ISO TR 17270-2007
微束分析－分析透射电子显微术－电子能量损失谱学实验参数测定技术报告
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2007-09-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
ISO 20263:2017
微束分析 - 分析透射电子显微镜 - 分层材料横截面图像中界面位置的测定方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2017-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
