表面化学分析-扫描探针显微术-用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准
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GB/T 43661-2024
表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜（ESPM，如SSRM和SCM）空间分辨的定义和校准
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS ISO 13083:2015
表面化学分析 扫描探针显微镜 二维掺杂成像和其他用途的电子扫描探针显微镜（ESPM）空间分辨率的定义和校准标准 如SSRM和SCM
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2015-08-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】化学分析
ISO 13083:2015
表面化学分析.扫描探针显微镜.用于2D掺杂成像和其他目的的电扫描探针显微镜（ESPM）的空间分辨率定义和校准标准 如SSRM和SCM
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2015-08-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40
