半导体集成电路-电压调整器测试方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-02 23:39:43 点击数：
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GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 4377-1996
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 4376-1994
半导体集成电路 电压调整器系列和品种
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1994-08-08
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42975-2023
半导体集成电路 驱动器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2018-02-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43061-2023
半导体集成电路 PWM控制器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20232703-T-339
半导体集成电路 电压调整器系列和品种
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43040-2023
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-06-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ 50597/60-2004
半导体集成电路JW117、JW150、JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2004-08-02
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-01-21
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ 50597/61-2005
半导体集成电路JW1083/JW1084/JW1085/JW1086型三端可调正输出低压差电压调整器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2006-01-18
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
SJ 50597/42-1996
半导体集成电路 ＪＷ７９Ｌ０５（０６、０９、１２、１５、１８、２４）型三端固定负输出电压调整器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-08-30
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】
SJ 50597/32-1995
半导体集成电路 ＪＷ４８０５、ＪＷ４８１０、ＪＷ４８１２型三端低压差固定正输出电压调整器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1995-05-25
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】
SJ 50597/16-1994
半导体集成电路 ＪＷ１３７、ＪＷ１３７Ｍ、ＪＷ１３７Ｌ型三端可调负输出电压调整器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1994-09-30
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-06-07
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
SJ/T 10804-2000
半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2000-12-28
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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