电子纸显示器件-第3-2部分:光电性能测试方法

2025-01-03 00:27:19 阅读 检测标准
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ISO认证

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高新技术企业

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GB/T 43789.32-2024

电子纸显示器件 第3-2部分:光电性能测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-03-15
  • 【CCS分类】L53半导体发光器件
  • 【ICS分类】31.120电子显示器件

GB/T 43789.31-2024

电子纸显示器件 第3-1部分:光学性能测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-03-15
  • 【CCS分类】L53半导体发光器件
  • 【ICS分类】31.120电子显示器件

20241804-T-339

电子纸显示器件 第3-3部分:带集成照明单元显示器件的光学测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2024-05-31
  • 【CCS分类】文本准备与交换
  • 【ICS分类】31.120电子显示器件

KS C IEC 62679-3-2-2015(2020)

电子纸显示器 - 第3-2部分:测量方法 - 电光

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2015-12-30
  • 【CCS分类】光电子器件综合
  • 【ICS分类】电子显示器件

\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u041c\u042d\u041a 62679-3-2-2017

电子纸显示器 第3-2部分 测量方法 电光

  • 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
  • 【发布日期】
  • 【CCS分类】L76电子技术专用材料
  • 【ICS分类】31.120光电子学、激光设备

GB/T 15651.3-2003

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2003-11-24
  • 【CCS分类】L50光通信设备
  • 【ICS分类】31.260陶瓷

GB/T 5594.6-2015

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-05-15
  • 【CCS分类】L90核探测器
  • 【ICS分类】81.060光纤系统综合

YD/T 2001.2-2011

用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-YD行业标准-邮电通信
  • 【发布日期】2011-12-20
  • 【CCS分类】M33电子技术专用材料
  • 【ICS分类】33.180.01光学设备

T/CAIA YQ007-2021

电子倍增电荷耦合成像器件 光电性能通用测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2021-07-30
  • 【CCS分类】F88电子技术专用材料
  • 【ICS分类】37.020电子元器件组件

GB/T 5594.3-2015

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-05-15
  • 【CCS分类】L90电子技术专用材料
  • 【ICS分类】31.190电子元器件组件

GB/T 5594.7-2015

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-05-15
  • 【CCS分类】L90电子技术专用材料
  • 【ICS分类】31.190陶瓷

GB/T 5594.1-1985

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1985-11-27
  • 【CCS分类】L32
  • 【ICS分类】81.060电子元器件综合

GB/T 5594.4-2015

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-05-15
  • 【CCS分类】L90
  • 【ICS分类】31.020陶瓷

GB/T 5594.8-2015

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-05-15
  • 【CCS分类】L90
  • 【ICS分类】81.060陶瓷

GB/T 5594.5-1985

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1985-11-27
  • 【CCS分类】L32
  • 【ICS分类】81.060高级陶瓷

GB/T 5594.2-1985

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1985-11-27
  • 【CCS分类】L32
  • 【ICS分类】81.060.30光电子学、激光设备

20231206-T-339

半导体器件 第5-8部分:光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.260电子技术专用材料

20231199-T-469

有机发光电子/空穴功能材料测试方法第2部分:光学性能

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.030电子技术专用材料

20231175-T-469

有机发光电子/空穴功能材料测试方法第1部分:热学性能

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.030其他半导体分立器件

20231205-T-339

半导体器件 第5-11部分:光电子器件 发光二极管 辐射和非辐射电流的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.080.99