电子纸显示器件-第3-2部分：光电性能测试方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-03 00:27:19 点击数：
全国服务领域：河北、山西、黑龙江、吉林、辽宁、江苏、浙江、安徽、福建、江西、山东、河南、湖北、湖南、广东、海南、四川、贵州、云南、陕西、甘肃、青海、台湾、内蒙古、广西、西藏、宁夏、新疆、北京、天津、上海、重庆、香港、澳门
GB/T 43789.32-2024
电子纸显示器件 第3-2部分：光电性能测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】L53半导体发光器件
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
GB/T 43789.31-2024
电子纸显示器件 第3-1部分：光学性能测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】L53半导体发光器件
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
20241804-T-339
电子纸显示器件 第3-3部分：带集成照明单元显示器件的光学测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-05-31
- 【CCS分类】文本准备与交换
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
KS C IEC 62679-3-2-2015(2020)
电子纸显示器 - 第3-2部分:测量方法 - 电光
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2015-12-30
- 【CCS分类】光电子器件综合
- 【ICS分类】电子显示器件
\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u041c\u042d\u041a 62679-3-2-2017
电子纸显示器 第3-2部分 测量方法 电光
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】L76电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.120光电子学、激光设备
GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L50光通信设备
- 【ICS分类】31.260陶瓷
GB/T 5594.6-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-05-15
- 【CCS分类】L90核探测器
- 【ICS分类】81.060光纤系统综合
YD/T 2001.2-2011
用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分：测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-YD行业标准-邮电通信
- 【发布日期】2011-12-20
- 【CCS分类】M33电子技术专用材料
- 【ICS分类】33.180.01光学设备
T/CAIA YQ007-2021
电子倍增电荷耦合成像器件 光电性能通用测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2021-07-30
- 【CCS分类】F88电子技术专用材料
- 【ICS分类】37.020电子元器件组件
GB/T 5594.3-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-05-15
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.190电子元器件组件
GB/T 5594.7-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-05-15
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.190陶瓷
GB/T 5594.1-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】81.060电子元器件综合
GB/T 5594.4-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-05-15
- 【CCS分类】L90
- 【ICS分类】31.020陶瓷
GB/T 5594.8-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-05-15
- 【CCS分类】L90
- 【ICS分类】81.060陶瓷
GB/T 5594.5-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】81.060高级陶瓷
GB/T 5594.2-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】81.060.30光电子学、激光设备
20231206-T-339
半导体器件 第5-8部分：光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.260电子技术专用材料
20231199-T-469
有机发光电子/空穴功能材料测试方法第2部分：光学性能
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.030电子技术专用材料
20231175-T-469
有机发光电子/空穴功能材料测试方法第1部分：热学性能
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.030其他半导体分立器件
20231205-T-339
半导体器件 第5-11部分：光电子器件 发光二极管 辐射和非辐射电流的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.99
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
以上是关于"电子纸显示器件-第3-2部分：光电性能测试方法"的介绍，如有其他问题可以咨询工程师为您服务！
实验室仪器
荣誉资质
服务项目
SERVICE PROJECT
