半导体器件-分立器件-第4部分：微波器件
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-03 03:26:53 点击数：
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GB/T 20516-2006
半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-10-10
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
GB/T 21039.1-2007
半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2007-06-29
- 【CCS分类】L41半导体二极管
- 【ICS分类】31.080.30三极管
20231891-T-339
半导体分立器件 第4部分：微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】激光器件
- 【ICS分类】31.080.10二极管
KS C IEC 60747-4-2022
半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2022-12-08
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】光电子学、激光设备
KS C IEC 60747-4-2017
半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2017-05-30
- 【CCS分类】半导体三极管
- 【ICS分类】三极管
GB/T 15651.4-2017
半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-05-31
- 【CCS分类】L51半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.260三极管
IEC 60747-4:2007+AMD1:2017 CSV
半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2017-01-30
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.30三极管
IEC 60747-4:2007
半导体器件 - 分立器件 - 第4部分:微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2007-08-23
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.080.30三极管
GB/T 4587-2023
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L40电力半导体器件、部件
- 【ICS分类】31.080.30三极管
IEC 60747-4:2007/AMD1:2017
修改件1.半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2017-01-30
- 【CCS分类】光电子器件综合
- 【ICS分类】31.080.30半导体器分立件综合
KS C IEC 60747-4-2-2002(2022)
半导体器件分立器件第4－2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-12-31
- 【CCS分类】半导体三极管
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
GB/T 29332-2012
半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-12-31
- 【CCS分类】L42
- 【ICS分类】31.080.30半导体器分立件综合
GB/T 4589.1-2006
半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-10-10
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080.01二极管
KS C IEC 60747-4-2-2002(2017)
半导体器件分立器件第4－2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】光电子学、激光设备
GB/T 17573-1998
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080.01半导体分立器件
GB/T 20870.4-2024
半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.080.01
DIN IEC 60747-4-DRAFT
文件草案.半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管（IEC 47E/265/CD:2004）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2005-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
GB/T 4023-2015
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-31
- 【CCS分类】K46
- 【ICS分类】31.080.10
GB/T 15651-1995
半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-07-24
- 【CCS分类】L50
- 【ICS分类】31.260
GB/T 4586-1994
半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1994-12-30
- 【CCS分类】L42
- 【ICS分类】31.080
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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