光伏组件用旁路二极管热失控测试

原创来源:北检院    发布时间:2025-01-03 12:23:06    点击数:

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GB/T 44081-2024

光伏组件用旁路二极管热失控测试

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-05-28
  • 【CCS分类】F12太阳能
  • 【ICS分类】27.160太阳能工程

GB/T 44292-2024

光伏组件用旁路二极管静电放电敏感度测试

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-08-23
  • 【CCS分类】F12太阳能
  • 【ICS分类】27.160太阳能工程

IEC 62979:2017

光伏组件.旁路二极管.热失控试验

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2017-08-10
  • 【CCS分类】电气照明
  • 【ICS分类】27.160太阳能工程

BS PD IEC/TS 62916:2017

光伏组件 旁路二极管静电放电敏感性测试

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2017-06-28
  • 【CCS分类】半导体光敏器件
  • 【ICS分类】太阳能工程

DIN EN 62979

光伏组件-旁路二极管-热失控试验(IEC 62979-2017);德文版EN 62979:2017

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2018-09-01
  • 【CCS分类】半导体光敏器件
  • 【ICS分类】太阳能工程

20121525-T-424

光伏组件接线盒用二极管技术要求

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2013-02-18
  • 【CCS分类】K70/79半导体光敏器件
  • 【ICS分类】27.160太阳能工程

IEC TS 62916:2017

光伏组件.旁路二极管静电放电敏感性试验

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2017-04-10
  • 【CCS分类】半导体发光器件
  • 【ICS分类】27.160太阳能工程

T/CPIA 0052-2023

光伏组件接线盒用模块二极管

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2023-10-15
  • 【CCS分类】半导体光敏器件
  • 【ICS分类】27.160光电子学、激光设备

DIN IEC/TS 62916-DRAFT

文件草案-光伏组件的旁路二极管静电放电敏感性试验(IEC 82/932/CD:2015)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2016-03-01
  • 【CCS分类】半导体光敏器件
  • 【ICS分类】

DIN EN 62979-DRAFT

文件草案-光伏组件旁路二极管热失控试验(IEC 82/1025/CD:2015)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2016-04-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

SJ 20785-2000

超辐射发光二极管组件测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2000-10-20
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

IEC TS 63109:2022

光伏(PV)组件和电池.通过电致发光图像的定量分析测量二极管理想因数

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2022-03-25
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】27.160

SJ 2215.6-1982

半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54
  • 【ICS分类】

SJ 2215.4-1982

半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54
  • 【ICS分类】

SJ 2215.3-1982

半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54
  • 【ICS分类】

SJ 2354.10-1983

PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1983-08-15
  • 【CCS分类】L53
  • 【ICS分类】

SJ 2215.2-1982

半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54
  • 【ICS分类】

SJ 2215.5-1982

半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1982-11-30
  • 【CCS分类】L54
  • 【ICS分类】

MIL MIL-T-48586A Notice 1-Cancellation

二极管开关测试装置组件:11736249(无S/S文件)(取代MIL-T-48586)

  • 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
  • 【发布日期】1997-04-18
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

KS C 6991-2001(2011)

用于光传输的测试方法所述的光电二极管

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2001-03-20
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.260

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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荣誉资质

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