薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
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高新技术企业
GB/T 20724-2021
微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】N53电化学、热化学、光学式分析仪器
- 【ICS分类】71.040.99有关分析化学的其他标准
GB/T 20724-2006
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-25
- 【CCS分类】N53电化学、热化学、光学式分析仪器
- 【ICS分类】71.040.99有关分析化学的其他标准
GB/T 38532-2020
微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2020-03-06
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 36165-2018
金属平均晶粒度的测定 电子背散射衍射(EBSD)法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-05-14
- 【CCS分类】H24金相检验方法
- 【ICS分类】77.040.99金属材料的其他试验方法
YB/T 4677-2018
钢中织构的测定 电子背散射衍射(EBSD)法
- 【发布单位或类别】 CN-YB行业标准-黑色冶金
- 【发布日期】2018-10-22
- 【CCS分类】H24金相检验方法
- 【ICS分类】77.040.99金属材料的其他试验方法
YS/T 1652-2023
锆及锆合金中织构的测定 电子背散射衍射法
- 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
- 【发布日期】2023-12-20
- 【CCS分类】H24金相检验方法
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
JY/T 0588-2020
单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
- 【发布单位或类别】 CN-JY行业标准-教育
- 【发布日期】2020-09-29
- 【CCS分类】Y51教学专用仪器
- 【ICS分类】03.180教育
GB/T 43610-2023
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
GB/T 43088-2023
微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
GB/T 43748-2024
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
20240596-T-610
SN/T 2649.1-2010
进出口化妆品中石棉的测定 第1部分:X射线衍射-扫描电子显微镜法
- 【发布单位或类别】 CN-SN行业标准-商品检验
- 【发布日期】2010-11-01
- 【CCS分类】Y42力学计量
- 【ICS分类】71.100.70美容品、化妆品
ISO 23749:2022
微束分析.电子背散射衍射.钢中奥氏体的定量测定
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2022-04-12
- 【CCS分类】冶金
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
BS ISO 23749:2022
微束分析.电子背散射衍射.钢中奥氏体的定量测定
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2022-05-11
- 【CCS分类】质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置
- 【ICS分类】长度和角度测量综合
\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 8.696-2010
确保测量一致性的状态系统 晶体中的晶面间距和衍射图中的强度分布 通过电子衍射仪进行测量的方法
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】A53
- 【ICS分类】17.040.01金属材料的其他试验方法
T/CSTM 00922-2024
电力变压器用电工钢带(片)晶粒取向性测定 电子背散射衍射(EBSD)法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2024-05-31
- 【CCS分类】H
- 【ICS分类】77.040.99物理化学分析方法
JY/T 008-1996
四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
- 【发布单位或类别】 CN-JY行业标准-教育
- 【发布日期】1997-01-23
- 【CCS分类】N54
- 【ICS分类】金属材料的其他试验方法
ASTM E2627-13(2019)
用电子背散射衍射(EBSD)测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2019-11-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
T/CNIA 0177-2023
变形铝及铝合金晶粒尺寸和再结晶面积分数的测定 电子背散射衍射法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2023-03-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】77.040.99
ISO 19214:2024
微束分析 分析电子显微镜 用透射电子显微镜测定纳米晶体表观生长方向的方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2024-10-16
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50