半导体探测器X射线能谱仪通则
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-03 16:17:17 点击数：
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GB/T 20726-2006
半导体探测器X射线能谱仪通则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-25
- 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.99有关分析化学的其他标准
GB/T 11685-2003
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-07-07
- 【CCS分类】F80核仪器与核探测器综合
- 【ICS分类】27.120.01核能综合
BS ISO 15632:2002
微束分析 带半导体探测器的能量色散X射线光谱仪仪器规范
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2002-12-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】有关分析化学的其他标准
ISO 15632:2002
微束分析.带半导体探测器的能量色散X射线光谱仪的仪器规范
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2002-11-25
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.99
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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