半导体探测器X射线能谱仪通则
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 20726-2006
半导体探测器X射线能谱仪通则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-25
- 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.99有关分析化学的其他标准
GB/T 11685-2003
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-07-07
- 【CCS分类】F80核仪器与核探测器综合
- 【ICS分类】27.120.01核能综合
BS ISO 15632:2002
微束分析 带半导体探测器的能量色散X射线光谱仪仪器规范
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2002-12-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】有关分析化学的其他标准
ISO 15632:2002
微束分析.带半导体探测器的能量色散X射线光谱仪的仪器规范
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2002-11-25
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.99
