用单片测试仪和光学传感器测量晶粒取向电工钢带(片)磁致伸缩特性的方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-04 00:58:54 点击数：
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GB/T 44391-2024
用单片测试仪和光学传感器测量晶粒取向电工钢带（片）磁致伸缩特性的方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-08-23
- 【CCS分类】K14电工合金零件
- 【ICS分类】29.030磁性材料
KS C IEC 60404-17-2023
磁性材料第17部分:用单片测试仪和光学传感器测量晶粒取向电工钢带和薄板磁致伸缩特性的方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2023-10-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】磁性材料
IEC 60404-17:2021
磁性材料.第17部分:用单片测试仪和光学传感器测量晶粒取向电工钢带和薄板磁致伸缩特性的方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2021-11-04
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.030
DIN EN IEC 60404-17-DRAFT
文件草案——磁性材料——第17部分:用单片测试仪和光学传感器测量电工钢带和薄板磁致伸缩特性的方法（IEC 68/623/CD:2019）；德语和英语文本
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2020-04-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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