用单片测试仪和光学传感器测量晶粒取向电工钢带(片)磁致伸缩特性的方法

2025-01-04 00:58:54 阅读 检测标准
CMA资质认定

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ISO认证

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高新技术企业

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GB/T 44391-2024

用单片测试仪和光学传感器测量晶粒取向电工钢带(片)磁致伸缩特性的方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-08-23
  • 【CCS分类】K14电工合金零件
  • 【ICS分类】29.030磁性材料

KS C IEC 60404-17-2023

磁性材料第17部分:用单片测试仪和光学传感器测量晶粒取向电工钢带和薄板磁致伸缩特性的方法

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2023-10-20
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】磁性材料

IEC 60404-17:2021

磁性材料.第17部分:用单片测试仪和光学传感器测量晶粒取向电工钢带和薄板磁致伸缩特性的方法

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2021-11-04
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.030

DIN EN IEC 60404-17-DRAFT

文件草案——磁性材料——第17部分:用单片测试仪和光学传感器测量电工钢带和薄板磁致伸缩特性的方法(IEC 68/623/CD:2019);德语和英语文本

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2020-04-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】