集成电路电磁兼容建模-第1部分：通用建模框架
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-04 17:57:54 点击数：
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GB/T 44807.1-2024
集成电路电磁兼容建模 第1部分：通用建模框架
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20213160-T-339
集成电路电磁兼容建模 第2部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模（ICEM-CE）
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-08-24
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20213161-T-339
集成电路电磁兼容建模 第3部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 辐射发射建模（ICEM-RE）
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-08-24
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20242335-T-339
集成电路电磁兼容建模 第4部分：集成电路射频抗扰度特性仿真模型 传导抗扰度建模 (ICIM-CI)
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-07-25
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20242740-T-339
集成电路电磁兼容建模 第6部分：集成电路脉冲抗扰度特性仿真模型 传导脉冲抗扰度建模（ICIM-CPI）
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-08-23
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42968.1-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
DIN EN 62433-1-DRAFT
文件草稿——集成电路——EMC IC建模——第1部分:通用建模框架（IEC 47A/1011/CD:2017）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2017-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
SJ 21147.1-2016
军用集成电路电磁发射测量方法 第1部分：通用条件和定义
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2016-01-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
20221350-T-339
集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2022-12-13
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200电子管
IEC 62228-1:2018
集成电路.收发器的电磁兼容性评估.第1部分:一般条件和定义
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2018-01-09
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
20214062-T-339
车辆集成电路电磁兼容试验通用规范
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-10-13
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.100
DIN EN 61967-1-DRAFT
文件草案-集成电路-电磁辐射测量-第1部分:通用条件和定义（IEC 47A/1022/CD:2017）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 62132-1-DRAFT
文件草案-集成电路-电磁抗扰度测量-第1部分:通用条件和定义（IEC 47A/888/CD:2012）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2012-11-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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