半导体器件-分立器件-第4-1部分：微波二极管和晶体管-微波场效应晶体管空白详细规范
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-04 18:18:30 点击数：
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GB/T 21039.1-2007
半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2007-06-29
- 【CCS分类】L41半导体二极管
- 【ICS分类】31.080.30三极管
KS C IEC 60747-4-1-2002(2017)
半导体器件分立器件第4－1部分:微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-12-31
- 【CCS分类】半导体三极管
- 【ICS分类】31.080.30三极管
GB/T 6219-1998
半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第一篇 1 GHz、5 W以下的单栅场效应晶体管 空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L42半导体三极管
- 【ICS分类】31.080.30三极管
20231891-T-339
半导体分立器件 第4部分：微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】场效应器件
- 【ICS分类】31.080.10二极管
KS C IEC 60747-4-2022
半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2022-12-08
- 【CCS分类】半导体三极管
- 【ICS分类】三极管
KS C IEC 60747-4-2017
半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2017-05-30
- 【CCS分类】半导体三极管
- 【ICS分类】三极管
IEC 60747-4:2007+AMD1:2017 CSV
半导体器件分立器件第4部分:微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2017-01-30
- 【CCS分类】半导体三极管
- 【ICS分类】31.080.30三极管
IEC 60747-4:2007
半导体器件 - 分立器件 - 第4部分:微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2007-08-23
- 【CCS分类】场效应器件
- 【ICS分类】31.080.30三极管
KS C IEC 60747-4-2-2002(2022)
半导体器件分立器件第4－2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-12-31
- 【CCS分类】场效应器件
- 【ICS分类】
IEC 60747-4:2007/AMD1:2017
修改件1.半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2017-01-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.30
KS C IEC 60747-4-2-2002(2017)
半导体器件分立器件第4－2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN IEC 60747-4-DRAFT
文件草案.半导体器件.分立器件.第4部分:微波二极管和晶体管（IEC 47E/265/CD:2004）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2005-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
IEC 63275-2:2022
半导体器件.碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管的可靠性试验方法.第2部分:由体二极管操作引起的双极退化的试验方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2022-05-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.30
SJ 50033/78-1995
半导体分立器件 ＣＳ０４６４型砷化镓微波场效应晶体管详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1995-05-25
- 【CCS分类】L42
- 【ICS分类】
SJ 50033/42-1994
半导体分立器件 ＣＳ０４６７型砷化镓微波场效应晶体管详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1994-09-30
- 【CCS分类】L44
- 【ICS分类】
SJ 50033/81-1995
半导体分立器件 ＣＳ０５２４型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1995-05-25
- 【CCS分类】L42
- 【ICS分类】
SJ 50033/80-1995
半导体分立器件 ＣＳ０５１３型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1995-05-25
- 【CCS分类】L42
- 【ICS分类】
SJ 50033/79-1995
半导体分立器件 ＣＳ０５３６型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1995-05-25
- 【CCS分类】L42
- 【ICS分类】
SJ 50033.54-1994
半导体分立器件CS0532型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1994-09-30
- 【CCS分类】L44
- 【ICS分类】
SJ 50033.52-1994
半导体分立器件CS0529型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1994-09-30
- 【CCS分类】L44
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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