微机电系统（MEMS）技术-金属膜材料成形极限测量方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-04 19:16:20 点击数：
全国服务领域：河北、山西、黑龙江、吉林、辽宁、江苏、浙江、安徽、福建、江西、山东、河南、湖北、湖南、广东、海南、四川、贵州、云南、陕西、甘肃、青海、台湾、内蒙古、广西、西藏、宁夏、新疆、北京、天津、上海、重庆、香港、澳门
GB/T 44849-2024
微机电系统（MEMS）技术 金属膜材料成形极限测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L59微型组件
- 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
IEC 62047-14:2012
半导体器件 - 微机电器件 - 第14部分:金属膜材料的成形极限测量方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2012-02-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
BS 10/30232073 DC
英国标准EN 62047-14 半导体器件 微机电系统 第14部分 金属薄膜材料成形极限测量方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2010-07-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
以上是关于"微机电系统（MEMS）技术-金属膜材料成形极限测量方法"的介绍，如有其他问题可以咨询工程师为您服务！
实验室仪器
服务项目
SERVICE PROJECT
