半导体分立器件和集成电路-第7部分:双极型晶体管

原创来源:北检院    发布时间:2025-01-05 00:33:08    点击数:

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GB/T 4587-1994

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1994-12-30
  • 【CCS分类】L42半导体三极管
  • 【ICS分类】31.080半导体分立器件

GB/T 4587-2023

半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-09-07
  • 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.080.30三极管

GB/T 4023-2015

半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-12-31
  • 【CCS分类】K46电力半导体器件、部件
  • 【ICS分类】31.080.10二极管

GB/T 7576-1998

半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1998-11-17
  • 【CCS分类】L42半导体三极管
  • 【ICS分类】31.080.30三极管

GB/T 6217-1998

半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1998-11-17
  • 【CCS分类】L42半导体三极管
  • 【ICS分类】31.080.30三极管

GB/T 4023-1997

半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1997-10-07
  • 【CCS分类】L41半导体二极管
  • 【ICS分类】31.080.10二极管

20064065-T-339

半导体器件 第7部分:双极型晶体管

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2005-12-30
  • 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.080.30三极管

SJ/Z 9014.3-1987

半导体器件 分立器件和集成电路 第6部分:闸流晶体管

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1987-09-14
  • 【CCS分类】L43半导体整流器件
  • 【ICS分类】二极管

KS C IEC 60747-4-2-2002(2022)

半导体器件分立器件第4-2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2002-12-31
  • 【CCS分类】半导体集成电路
  • 【ICS分类】二极管

KS C IEC 60747-4-2-2002(2017)

半导体器件分立器件第4-2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2002-12-31
  • 【CCS分类】场效应器件
  • 【ICS分类】三极管

KS C IEC 60747-2-2006(2016)

半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2006-12-11
  • 【CCS分类】半导体三极管
  • 【ICS分类】31.080.10三极管

DIN IEC 60747-2

半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2001-02-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

IEC 60747-2:2000

半导体器件 - 分立器件和集成电路 - 第2部分:整流二极管

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2000-03-21
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.080.10

20233716-T-339

半导体分立器件 小功率双极型晶体管空白详细规范

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.080.30

DIN EN 60747-5-7-DRAFT

文件草案-半导体器件-分立器件-第5-7部分:光电子器件-光电二极管和光电晶体管(IEC 47E/420/CD:2011)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2011-12-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

20233689-T-339

半导体分立器件 大功率双极型晶体管空白详细规范

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.080.30

GB/T 5965-2000

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2000-01-03
  • 【CCS分类】L56
  • 【ICS分类】31.200

SJ 50033.51-1994

半导体分立器件CS0558型砷化镓微波双栅场效应晶体管详细规范

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1994-09-30
  • 【CCS分类】L44
  • 【ICS分类】

SJ 20063-1992

半导体分立器件 3DG213型NPN硅超高频低噪声双差分对晶体管详细规范

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1992-11-19
  • 【CCS分类】L42
  • 【ICS分类】

BS IEC 60747-12-3:1998

分立半导体器件和集成电路 光电器件 显示器用发光二极管空白详细规范

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】1998-11-15
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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实验室仪器

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