半导体器件-机械和气候试验方法-第11部分：快速温度变化-双液槽法
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-06 08:31:46 点击数：
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GB/T 4937.11-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
UNE-EN 60749-11:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的快速变化.双液浴法
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2003-05-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体分立器件
DIN EN 60749-11
半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的快速变化；双液浴法（IEC 60749-11-2002）；德文版EN 60749-11:2002
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2003-04-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
KS C IEC 60749-11-2020
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第11部分:温度快速变化 - 双流体浴法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2020-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080
IEC 60749-11:2002
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第11部分:温度快速变化 - 双流体浴法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2002-04-12
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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