半导体器件-机械和气候试验方法-第14部分：引出端强度(引线牢固性)
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高新技术企业
GB/T 4937.14-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度（引线牢固性）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60749-14-2006(2021)
半导体器件机械和气候试验方法第14部分:终端的坚固性（引线完整性）
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2006-11-30
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60749-14-2006(2016)
半导体器件机械和气候试验方法第14部分:终端的坚固性（引线完整性）
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2006-11-30
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
UNE-EN 60749-14:2004
半导体器件机械和气候试验方法第14部分:终端的坚固性（引线完整性）
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2004-06-11
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
DIN EN 60749-14
半导体器件.机械和气候试验方法.第14部分:终端的坚固性（引线完整性）（IEC 60749-14-2003）；德文版EN 60749-14:2003
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2004-07-01
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
GB/T 4937.21-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分：可焊性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
GB/T 4937.32-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-05-23
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体分立器件
GB/T 4937.31-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-05-23
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
SJ/Z 9016-1987
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1987-09-14
- 【CCS分类】L04
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
GB/T 4937-1995
半导体器件机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-12-22
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080半导体器分立件综合
20231752-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
BS EN IEC 60749-39:2022
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2022-03-07
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C IEC 60749-2004(2020)
半导体器件机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2004-08-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
BS EN IEC 60749-41:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-09-09
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-30:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-09-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-20:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-10-14
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-15:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
20201540-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-04-01
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080.01
BS EN IEC 60749-17:2019
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2019-05-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-18:2019
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2019-06-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
