半导体器件-机械和气候试验方法-第15部分：通孔安装器件的耐焊接热
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-06 08:42:19 点击数：
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GB/T 4937.15-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
GB/T 4937.20-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分：塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
GB/T 4937.201-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分：对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
GB/T 4937.30-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-15:2020 RLV
半导体器件.机械和气候试验方法.第15部分:通孔安装器件的耐焊接温度
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-07-14
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-15:2020
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第15部分:通孔安装器件的耐焊接温度
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-07-14
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
UNE-EN 60749-15:2003
半导体器件机械和气候试验方法第15部分:通孔安装器件的耐焊接温度
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2003-11-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
DIN EN IEC 60749-15
半导体器件.机械和气候试验方法.第15部分:通孔安装器件的耐焊接温度（IEC 60749-15-2020）；德国版本EN IEC 60749-15:2020
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2022-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
20231896-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分：对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-15:2010
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第15部分:通孔安装器件的耐焊接温度
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2010-10-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-30:2020 RLV
半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-08-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-20-1:2019 RLV
半导体器件.机械和气候试验方法.第20-1部分:对湿气和焊接热的综合影响敏感的表面安装器件的搬运 包装 标签和装运
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2019-06-26
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-20:2020 RLV
半导体器件.机械和气候试验方法.第20部分:塑料封装SMD对湿气和焊接热的综合影响的耐受性
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-08-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
UNE-EN 60749-30:2005
半导体器件机械和气候试验方法第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2005-11-02
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 60749-15
半导体器件.机械和气候试验方法.第15部分:通孔安装器件的耐焊接温度（IEC 60749-15-2010）；德文版EN 60749-15:2010+AC:2011
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2011-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN IEC 60749-15-DRAFT
文件草稿——半导体器件——机械和气候试验方法——第15部分:通孔安装器件的耐焊接温度（IEC 47/2575/CDV:2019）；德文和英文版本prEN IEC 60749-15:2019
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2019-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 60749-15-DRAFT
文件草稿——半导体器件——机械和气候试验方法——第15部分:通孔安装器件的耐焊接温度（IEC 47/2014/CDV:2009）；德文版FprEN 60749-15:2009
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2009-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
UNE-EN 60749-20:2004
半导体器件.机械和气候试验方法.第20部分:塑料封装SMD对湿气和焊接热的综合影响的耐受性
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2004-06-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS 07/30168484 DC
英国标准EN 60749-20 半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分 塑料封装SMD对湿气和焊接热综合影响的耐受性
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2007-07-05
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
IEC 60749-30:2005+AMD1:2011 CSV
半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2011-08-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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