半导体器件-机械和气候试验方法-第18部分：电离辐射(总剂量)
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高新技术企业
GB/T 4937.18-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐射(总剂量)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60749-18-2021
半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射（总剂量）
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2021-12-29
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-18:2019 RLV
半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射（总剂量）
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2019-04-10
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60749-18-2006(2016)
半导体器件机械和气候试验方法第18部分:电离辐射（总剂量）
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2006-11-30
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
UNE-EN 60749-18:2003
半导体器件机械和气候试验方法第18部分:电离辐射（总剂量）
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2003-11-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
DIN EN IEC 60749-18
半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射（总剂量）（IEC 60749-18-2019）；德国版本EN IEC 60749-18:2019
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2020-02-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
DIN EN 60749-18
半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射（总剂量）（IEC 60749-18-2002）；德文版EN 60749-18:2003
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2003-09-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体分立器件
DIN EN 60749-18-DRAFT
文件草案——半导体器件——机械和气候试验方法——第18部分:电离辐射（总剂量）（IEC 47/2468/CDV:2018）；德文和英文版本prEN 60749-18:2018
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2018-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
IEC 60749-18:2019
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第18部分:电离辐射（总剂量）
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2019-04-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-18:2002
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第18部分:电离辐射（总剂量）
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2002-12-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
SJ/Z 9016-1987
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1987-09-14
- 【CCS分类】L04
- 【ICS分类】
GB/T 4937-1995
半导体器件机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-12-22
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080
ASTM F1892-12(2018)
半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2018-03-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
BS EN IEC 60749-39:2022
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2022-03-07
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C IEC 60749-2004(2020)
半导体器件机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2004-08-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
BS EN IEC 60749-41:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-09-09
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-30:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-09-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-20:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-10-14
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-15:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
20201540-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-04-01
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080.01
