半导体器件-机械和气候试验方法-第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-06 09:14:58 点击数：
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GB/T 4937.30-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-30:2020 RLV
半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-08-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
UNE-EN 60749-30:2005
半导体器件机械和气候试验方法第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2005-11-02
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
IEC 60749-30:2020
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第30部分:在可靠性测试之前对非密封性表面贴装器件进行预处理
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-08-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-30:2005+AMD1:2011 CSV
半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2011-08-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-30:2005/AMD1:2011
修改件1.半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2011-05-25
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
BS EN 60749-30:2005
半导体器件 机械和气候试验方法 可靠性测试前非密封表面安装装置的预处理
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2006-01-27
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
DIN EN IEC 60749-30-DRAFT
文件草案——半导体器件——机械和气候试验方法——第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理（IEC 47/2562/CDV:2019）；德文版prEN IEC 60749-30:2019
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2019-09-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
IEC 60749-30:2005
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第30部分:在可靠性测试之前对非密封性表面贴装器件进行预处理
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2005-01-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
DIN EN 60749-30
半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理（IEC 60749-30-2005+A1-2011）；德文版EN 60749-30:2005+A1:2011
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2011-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 60749-30/A1-DRAFT
文件草案——半导体器件——机械和气候试验方法——第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理（IEC 47/2019/CDV:2009）；德文版EN 60749-30:2005/FprA1:2009
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2009-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
20231576-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
IEC 60749-41:2020
半导体器件.机械和气候试验方法.第41部分:非易失性存储器器件的标准可靠性试验方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-07-22
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
DIN EN 60749-41-DRAFT
文件草稿-半导体器件-机械和气候试验方法-第41部分:非易失性存储器器件的可靠性试验方法（IEC 47/2325/CD:2016）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2017-04-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 60749-43
半导体器件.机械和气候试验方法.第43部分:IC可靠性鉴定计划指南（IEC 60749-43-2017）；德文版EN 60749-43:2017
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2018-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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