半导体器件-机械和气候试验方法-第4部分：强加速稳态湿热试验(HAST)
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GB/T 4937.4-2012v
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-11-05
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
GB/T 4937.4-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-11-05
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
UNE-EN 60749-4:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验（HAST）
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2003-05-30
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
20201541-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：稳态加速度
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-04-01
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60749-4-2020
半导体器件 - 机械和气候测试方法第4部分:潮湿热 稳态 高加速应力测试（HAST）
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2020-07-23
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-4:2017
半导体器件 - 机械和气候测试方法第4部分:潮湿热 稳态 高加速应力测试（HAST）
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2017-03-03
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
20141817-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿-无偏置强加速应力试验
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2014-12-23
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
20130106-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2013-08-01
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-36:2003
半导体器件机械和气候试验方法第36部分:加速稳态
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2003-02-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
DIN EN 60749-4-DRAFT
文件草稿.半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热稳态高加速应力试验（HAST）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2016-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
UNE-EN 60749-36:2004
半导体器件机械和气候试验方法第36部分:稳态加速度
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2004-03-18
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体分立器件
IEC 60749-5:2023
半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温湿度偏差寿命试验
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2023-12-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60749-5:2023 RLV
半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温湿度偏差寿命试验
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2023-12-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体分立器件
20141819-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿-无偏置高压蒸煮
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2014-12-23
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60749-24-2006(2021)
半导体器件机械和气候试验方法第24部分:加速防潮无偏试验
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2006-03-24
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080
20204846-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-12-24
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080.01
KS C IEC 60749-24-2006(2016)
半导体器件机械和气候试验方法第24部分:加速防潮无偏试验
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2006-03-24
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080
UNE-EN 60749-5:2003
半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏差寿命试验
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2003-11-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
UNE-EN 60749-24:2005
半导体器件机械和气候试验方法第24部分:加速防潮无偏试验
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2005-03-16
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
IEC 60749-4:2002
半导体器件 - 机械和气候测试方法第4部分:潮湿热 稳态 高加速应力测试（HAST）
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2002-04-12
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
