显微镜-偏光显微术的参考系统
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 22061-2008
显微镜 偏光显微术的参考系统
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-06-20
- 【CCS分类】N32放大镜与显微镜
- 【ICS分类】37.020光学设备
JB/T 8380-1996
偏光显微镜参考系统
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】1996-04-16
- 【CCS分类】N32放大镜与显微镜
- 【ICS分类】37.020光学设备
KS B ISO 8576-2006(2016)
光学和光学仪器 - 显微镜 - 偏光显微镜参考系
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2006-06-09
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】37.020光学设备
KS B ISO 8576-2023
光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜的参考系统
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2023-03-20
- 【CCS分类】放大镜与显微镜
- 【ICS分类】37.020光学设备
KS B ISO 8576-2006(2021)
光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜的参考系统
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2006-06-09
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】37.020光学设备
DIN ISO 8576
光学和光学仪器显微镜偏振光显微镜的参考系统
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2002-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】光学设备
ISO 8576:1996
光学和光学仪器——显微镜——偏振光显微镜参考系统
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】1996-12-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】37.020化学分析
GB/T 42659-2023
表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.40光学设备
BS ISO 9345-2:2014
显微镜 与机械参考平面相关的成像距离 无限校正光学系统
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2014-09-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】光学设备
ISO 9345-2:2014
显微镜 - 与机械参考平面有关的成像距离 - 第2部分:无限远校正的光学系统
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2014-09-04
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】37.020光学设备
BS ISO 9345-2:2003
光学和光学仪器 显微镜 与机械参考平面相关的成像距离 无限校正光学系统
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2003-06-24
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
ISO 9345-2:2003
光学和光学仪器——显微镜:与机械参考Planespat 2相关的成像距离:无限校正光学系统
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2003-03-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】37.020
GB/T 22057.2-2008
显微镜 相对机械参考平面的成像距离 第2部分：无限远校正光学系统
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-06-20
- 【CCS分类】N32
- 【ICS分类】37.020
