石英晶体元件参数的测量-第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-07 15:54:53 点击数：
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GB/T 22319.11-2018
石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-1-2016(2021)
石英晶体元件参数的测量.第11部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLEF的标准方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-11-2016(2021)
石英晶体元件参数的测量.第11部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLEF的标准方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-1-2016
石英晶体单位参数的测量 - 第11部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定负载共振频率（f1）和有效负载电容（cleff）的标准方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-11-2016
石英晶体单位参数的测量 - 第11部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定负载共振频率（f1）和有效负载电容（cleff）的标准方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
IEC 60444-11:2010
石英晶体元件参数的测量.第11部分:用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLeff的标准方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2010-10-07
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
SJ/T 11211-1999
石英晶体元件参数的测量 第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1999-08-26
- 【CCS分类】L21
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
BS 08/30180527 DC
英国标准EN 60444-11 石英晶体单元参数的测量 第11部分 用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLEF的标准方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2008-07-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】频率控制和选择用压电器件与介质器件
DIN IEC 60444-11-DRAFT
文件草案.石英晶体元件参数的测量.第11部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率f<（指数）L>和有效负载电容C<（指数）Leff>的标准方法（IEC 49/806/CD:2008）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2008-09-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】频率控制和选择用压电器件与介质器件
DIN EN 60444-11
石英晶体元件参数的测量.第11部分:用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率f<（指数）L>和有效负载电容C<（指数）Leff>的标准方法（IEC 60444-11-2010）；德文版EN 60444-1
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2011-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC TR 60444-4-2018(2023)
用π网络中的零相位技术测量石英晶体单元参数第4部分:负载谐振频率fL、负载谐振电阻RL的测量方法和30MHz以下石英晶体单元其他导出值的计算
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2018-07-18
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140
KS C IEC TR 60444-4-2018
用π网络零相位技术测量石英晶体元件参数第4部分:30MHz以下石英晶体元件负载谐振频率fl、负载谐振电阻rl的测量方法和其它导出值的计算方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2018-07-18
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140
IEC TR 60444-4:1988
在pi网络中用零相位技术测量石英晶体单元参数 第4部分:负载谐振频率fL、负载谐振电阻RL的测量方法和石英晶体单元（最高30 MHz）其他衍生值的计算方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1988-06-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140
DIN EN 60444-4
在pi网络中用零相位技术测量石英晶体元件参数.第4部分:负载谐振频率f<（指数）L>和负载谐振电阻R<（指数）L>的测量方法和30 MHz以下石英晶体元件其他导出值的计算方法（IEC 60444-4）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】1997-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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