石英晶体元件参数的测量-第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-07 15:59:53 点击数：
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GB/T 22319.7-2015
石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-06-02
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
GB/T 22319.9-2018
石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
GB/T 22319.8-2008
石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-08-06
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
GB/T 22319.6-2023
石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
20202533-T-339
石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-08-07
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
SJ/T 11212-1999
石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1999-08-26
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
SJ/T 11210-1999
石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1999-08-26
- 【CCS分类】L10/34电子元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-7-2016
的石英晶体元件参数的测量 - 第7部分:石英晶体元件的活性和频率下降的测量
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
GB/T 22319.11-2018
石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-7-2016(2021)
石英晶体元件参数测量第7部分:石英晶体元件活度和频率倾角的测量
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
SJ/Z 9154.2-1987
用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分：测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1988-01-06
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】频率控制和选择用压电器件与介质器件
SJ/Z 9154.1-1987
用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第一部分：测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1988-01-06
- 【CCS分类】L21
- 【ICS分类】频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-8-2016
的石英晶体元件参数的测量 - 第8部分:表面安装石英晶体元件测试夹具
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-9-2016(2021)
石英晶体元件参数测量第9部分:压电晶体元件寄生谐振的测量
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
SJ/T 11211-1999
石英晶体元件参数的测量 第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1999-08-26
- 【CCS分类】L21
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
IEC 60444-7:2004
石英晶体单元参数的测量.第7部分:石英晶体单元的活性和频率下降的测量
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2004-04-05
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-2-2002(2017)
用p网络零相位法测量石英晶体元件参数第2部分:测量石英晶体元件动电容的相位偏移法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-12-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
IEC 60444-6:2021
石英晶体元件参数的测量.第6部分:驱动电平相关性（DLD）的测量
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2021-09-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
IEC 60444-6:2021 RLV
石英晶体元件参数的测量第6部分:驱动电平相关性（DLD）的测量
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2021-09-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140
KS C IEC 60444-9-2016
的石英晶体元件参数的测量 - 第9部分:压电晶体单元的寄生共振的测定
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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