石英晶体元件参数的测量-第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-07 16:02:42 点击数：
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GB/T 22319.8-2008
石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-08-06
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
20202533-T-339
石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-08-07
- 【CCS分类】L21石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-8-2016(2021)
石英晶体元件参数测量第8部分:表面安装石英晶体元件试验夹具
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-8-2016
的石英晶体元件参数的测量 - 第8部分:表面安装石英晶体元件测试夹具
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
IEC 60444-8:2016
石英晶体单位参数测量第8部分:表面贴装石英晶体单元的测试夹具
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2016-12-15
- 【CCS分类】石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-2-2002(2017)
用p网络零相位法测量石英晶体元件参数第2部分:测量石英晶体元件动电容的相位偏移法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-12-30
- 【CCS分类】石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
IEC 60444-8:2003
石英晶体单位参数测量第8部分:表面贴装石英晶体单元的测试夹具
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2003-07-04
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
DIN EN 60444-8-DRAFT
文件草稿.石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装石英晶体元件的试验夹具（IEC 49/1099/CD:2014）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2014-08-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC TR 60444-4-2018
用π网络零相位技术测量石英晶体元件参数第4部分:30MHz以下石英晶体元件负载谐振频率fl、负载谐振电阻rl的测量方法和其它导出值的计算方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2018-07-18
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-5-2016(2021)
石英晶体元件参数的测量第5部分:用自动网络分析仪技术测定等效电参数的方法和误差校正
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 60444-5-2016
的石英晶体元件参数测量 - 第5部分:用自动网络分析仪和误差修正技术等效电参数的确定方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
DIN EN 60444-8
石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装石英晶体元件的试验夹具（IEC 60444-8-2003）；德文版EN 60444-8:2003
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2004-03-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】频率控制和选择用压电器件与介质器件
DIN EN 60444-2
用pi网络中的零相位技术测量石英晶体元件参数.第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏移法（IEC 60444-2-1980）；德文版EN 60444-2:1997
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】1997-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】频率控制和选择用压电器件与介质器件
GB/T 22319.9-2018
石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L21
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
IEC 60444-11:2010
石英晶体元件参数的测量.第11部分:用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLeff的标准方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2010-10-07
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
GB/T 22319.7-2015
石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-06-02
- 【CCS分类】L21
- 【ICS分类】31.140
DIN EN 60444-11
石英晶体元件参数的测量.第11部分:用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率f<（指数）L>和有效负载电容C<（指数）Leff>的标准方法（IEC 60444-11-2010）；德文版EN 60444-1
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2011-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
GB/T 22319.6-2023
石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L21
- 【ICS分类】31.140
BS EN IEC 60444-6:2021
石英晶体单元参数的测量
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2021-11-05
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
SJ/T 11212-1999
石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1999-08-26
- 【CCS分类】L21
- 【ICS分类】31.140
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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