带电粒子半导体探测器测试方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-08 16:17:28 点击数：
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GB/T 5201-1994
带电粒子半导体探测器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1994-12-22
- 【CCS分类】F80核仪器与核探测器综合
- 【ICS分类】17.240辐射测量
GB/T 5201-2012
带电粒子半导体探测器测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-06-29
- 【CCS分类】F88核探测器
- 【ICS分类】27.120核能工程
IEEE 300-1988
IEEE半导体带电粒子探测器的标准试验程序
- 【发布单位或类别】 US-IEEE美国电气电子工程师学会
- 【发布日期】1988-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】射线照相设备
DIN IEC 60333
核仪器.半导体带电粒子探测器.试验程序（IEC 60333-1993）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】1995-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】射线照相设备
KS C IEC 61674-2018(2023)
医用电气设备X射线诊断成像用带电离室和/或半导体探测器的剂量计
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2018-08-22
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】11.040.50射线照相设备
IEC 61674:2024 CMV
医用电气设备.X射线诊断成像中使用的带电离室和/或半导体探测器的剂量计
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2024-07-09
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】11.040.50射线照相设备
EN IEC 61674:2024
医用电气设备.X射线诊断成像中使用的带电离室和/或半导体探测器的剂量计
- 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
- 【发布日期】2024-08-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】11.040.50
IEC 61674:2024
医用电气设备.X射线诊断成像中使用的带电离室和/或半导体探测器的剂量计
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2024-07-09
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】11.040.50
BS EN 61674:2013
医用电气设备 X射线诊断成像中使用的带电离室和/或半导体探测器的剂量计
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2013-04-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
UNE-EN 61674:2003
医用电气设备.X射线诊断成像用带电离室和/或半导体探测器的剂量计
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2003-06-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 61674
医用电气设备.X射线诊断成像用带电离室和/或半导体探测器的剂量计（IEC 61674-2012）；德文版EN 61674:2013
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2015-11-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN 61674:1998
医用电气设备 X射线诊断成像中使用的带电离室和/或半导体探测器的剂量计
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2003-08-05
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS 10/30217545 DC
英国标准EN 61674 医用电气设备 X射线诊断成像中使用的带电离室和/或半导体探测器的剂量计
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2010-12-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
IEEE 300-1969
半导体辐射探测器（电离辐射用）的美国标准和IEEE测试程序
- 【发布单位或类别】 US-IEEE美国电气电子工程师学会
- 【发布日期】1968-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 61674-DRAFT
文件草案——医用电气设备——X射线诊断成像中使用的带电离室和/或半导体探测器的剂量计（IEC 62C/507/CDV:2010）；德文版prEN 61674:2011
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2011-02-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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