带电粒子半导体探测器测量方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 5201-2012
带电粒子半导体探测器测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-06-29
- 【CCS分类】F88核探测器
- 【ICS分类】27.120核能工程
GB/T 5201-1994
带电粒子半导体探测器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1994-12-22
- 【CCS分类】F80核仪器与核探测器综合
- 【ICS分类】17.240辐射测量
GB/T 11685-2003
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-07-07
- 【CCS分类】F80核仪器与核探测器综合
- 【ICS分类】27.120.01核能综合
IEEE 300-1988
IEEE半导体带电粒子探测器的标准试验程序
- 【发布单位或类别】 US-IEEE美国电气电子工程师学会
- 【发布日期】1988-12-29
- 【CCS分类】核仪器与核探测器综合
- 【ICS分类】辐射测量
DIN IEC 60333
核仪器.半导体带电粒子探测器.试验程序（IEC 60333-1993）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】1995-10-01
- 【CCS分类】核探测器
- 【ICS分类】辐射测量
\u0413\u041e\u0421\u0422 26222-86
电离辐射半导体探测器 参数测量方法
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】F80
- 【ICS分类】17.240
\u0413\u041e\u0421\u0422 18229-81
用于半导体辐射探测器的Spektrometric电荷敏感前置放大器 类型 基本参数和测量方法
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】F88
- 【ICS分类】17.240
