电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法-第8部分：显微结构测定方法
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高新技术企业
GB/T 5594.8-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-05-15
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】81.060陶瓷
GB/T 5594.7-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-05-15
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.190电子元器件组件
GB/T 5594.8-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.030电子技术专用材料
GB/T 5594.6-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-05-15
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】81.060陶瓷
GB/T 5594.3-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-05-15
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.190电子元器件组件
GB/T 5594.4-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-05-15
- 【CCS分类】L90
- 【ICS分类】31.020电子元器件综合
GB/T 5594.1-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】81.060陶瓷
GB/T 5594.5-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】81.060陶瓷
GB/T 5594.2-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】81.060.30高级陶瓷
GB/T 5594.7-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】31.030电子技术专用材料
GB/T 5594.6-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】31.030电子技术专用材料
GB/T 5594.3-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】31.030电子技术专用材料
GB/T 5594.4-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】31.030电子技术专用材料
