纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定-X射线衍射线宽化法

2025-01-10 02:51:23 阅读 检测标准
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GB/T 23413-2009

纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-04-01
  • 【CCS分类】N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
  • 【ICS分类】19.100无损检测