纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定-X射线衍射线宽化法
GB/T 23413-2009
纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-04-01
- 【CCS分类】N78Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
- 【ICS分类】19.100无损检测
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