电子管和半导体器件额定值制
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-10 11:51:29 点击数：
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GB/T 5839-1986
电子管和半导体器件额定值制
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1986-01-29
- 【CCS分类】L04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】31.020电子元器件综合
GB/T 15651.2-2003/IEC 60747-5-2:1997
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L50光电子器件综合
- 【ICS分类】光电子学、激光设备
GB/T 15651.2-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L50光电子器件综合
- 【ICS分类】31.260光纤系统综合
YD/T 2001.1-2009
用于光纤系统的半导体光电子器件 第1部分：基本特性和额定值
- 【发布单位或类别】 CN-YD行业标准-邮电通信
- 【发布日期】2009-12-11
- 【CCS分类】M33光通信设备
- 【ICS分类】33.180.01半导体分立器件
IEC 60134:1961
电子管和阀门和类似半导体器件的额定值系统
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1961-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080光电子学、激光设备
IEC 60747-5-2:1997+AMD1:2002 CSV
分立半导体器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2009-11-25
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.260其他半导体分立器件
IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002
修改件1.分立半导体器件和集成电路.第5-2部分:光电子器件.基本额定值和特性
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2002-03-25
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.99二极管
DIN EN 62007-1
光纤系统用半导体光电子器件.第1部分:基本额定值和特性规范模板（IEC 62007-1-2015）；德文版EN 62007-1:2015
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2016-03-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】二极管
IEC 60147-1K:1981
补充K——半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原理- 第1部分:基本额定值和特性第9章:光电子器件
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1981-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.10
DIN EN 60747-5-2
分立半导体器件和集成电路.第5-2部分:光电子器件；基本额定值和特性（IEC 60747-5-2-1997+A1-2002）；德文版EN 60747-5-2:2001+A1:2002
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2003-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
IEC 60147-2G:1975
补充G——半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原理- 第2部分:测量方法的一般原理第4章:场效应晶体管
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1975-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.10
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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