半导体器件-集成电路-第2部分：数字集成电路-第一篇-双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列)-空白详细规范
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-10 17:03:06 点击数：
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GB/T 5965-2000
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列） 空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2000-01-03
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-1-2001(2021)
半导体集成电路第2部分:数字集成电路第一节:双极单片数字集成电路门（不包括非承诺逻辑阵列）空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2001-12-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-1-2001(2016)
半导体集成电路第2部分:数字集成电路第1节:双极单片数字集成电路门（不包括非承诺逻辑阵列）空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2001-12-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-2-1:1991
半导体器件 - 集成电路 - 第2-1部分:数字集成电路 - 双极单片数字集成电路门（不包括未提交的逻辑阵列）的空白详细规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1991-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-12-2002(2017)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第12节:数字集成电路可编程逻辑器件空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60748-2-12-2002(2022)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第12节数字集成电路可编程逻辑器件（PLD）空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60748-2-10-2001(2021)
半导体集成电路第2部分:数字集成电路第10节集成电路动态读写存储器空白详细规范（不包括未提交逻辑阵列）
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2001-12-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-10-2001(2016)
半导体集成电路第2部分:数字集成电路第10节集成电路动态读写存储器空白详细规范（不包括非提交逻辑阵列）
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2001-12-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-7-2002(2022)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第7节:集成电路熔断可编程双极只读存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60748-2-7-2002(2017)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第7节:集成电路空白详细规范熔丝连接可编程双极只读存储器
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
IEC 60748-2-12:2001
半导体器件 - 集成电路 - part2-12:数字集成电路 - 可编程逻辑器件（PLD）的空白详细规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2001-01-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS QC 790132:1992
电子元件质量评定协调体系规范 半导体器件 集成电路 空白详细规范 双极单片数字集成电路门（不包括未提交的逻辑阵列）
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】1992-01-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
IEC 60748-2-7:1992
半导体器件 集成电路 - 第2部分:数字集成电路 - 第7部分:集成电路可熔链可编程双极只读存储器的空白详细规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1992-10-23
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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