微波二极管测试方法

原创来源:北检院    发布时间:2025-01-12 08:33:20    点击数:

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GB/T 6570-1986

微波二极管测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1986-07-22
  • 【CCS分类】L41半导体二极管
  • 【ICS分类】31.080.10二极管

GB/T 38621-2020

发光二极管模块热特性瞬态测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2020-04-28
  • 【CCS分类】L63计算机外围设备
  • 【ICS分类】31.120电子显示器件

GB/T 44081-2024

光伏组件用旁路二极管热失控测试

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-05-28
  • 【CCS分类】F12太阳能
  • 【ICS分类】27.160太阳能工程

GB/T 43787-2024

曲面有机发光二极管(OLED)光源光学性能测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-03-15
  • 【CCS分类】L53半导体发光器件
  • 【ICS分类】31.120电子显示器件

SJ/T 11767-2020

二极管低频噪声参数测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2020-12-09
  • 【CCS分类】L41半导体二极管
  • 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合

JB/T 7624-2013

整流二极管测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
  • 【发布日期】2013-04-25
  • 【CCS分类】K46电力半导体器件、部件
  • 【ICS分类】31.080.10二极管

SJ/T 2749-2016

半导体激光二极管测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2016-01-15
  • 【CCS分类】L53半导体发光器件
  • 【ICS分类】31.080半导体分立器件

SJ/T 2354-2015

PIN、雪崩光电二极管测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2015-04-30
  • 【CCS分类】L54半导体光敏器件
  • 【ICS分类】31.180印制电路和印制电路板

SJ/T 11394-2009

半导体发光二极管测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2009-11-17
  • 【CCS分类】L45微波、毫米波二、三极管
  • 【ICS分类】31.080半导体分立器件

JB/T 10875-2008

发光二极管光学性能测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
  • 【发布日期】2008-06-04
  • 【CCS分类】L53半导体发光器件
  • 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备

SJ/T 11281-2017

发光二极管(LED)显示屏测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2017-11-07
  • 【CCS分类】L47其他
  • 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备

DB35/T 2107-2022

紫外发光二极管测评方法

  • 【发布单位或类别】 CN-DB35福建省地方标准
  • 【发布日期】2022-12-27
  • 【CCS分类】L53半导体发光器件
  • 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件

SJ 20788-2000

半导体二极管热阻抗测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2000-10-20
  • 【CCS分类】半导体发光器件
  • 【ICS分类】半导体分立器件

SJ/T 11818.1-2022

半导体紫外发射二极管 第1部分:测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2022-10-20
  • 【CCS分类】L53电子元器件
  • 【ICS分类】音频、视频和视听工程

SJ 20785-2000

超辐射发光二极管组件测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2000-10-20
  • 【CCS分类】半导体光敏器件
  • 【ICS分类】二极管

QJ 1299-1987

硅微波混频、检波二极管筛选规范

  • 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
  • 【发布日期】1987-09-02
  • 【CCS分类】V25化合物半导体材料
  • 【ICS分类】光电子学、激光设备

SJ/T 2214-2015

半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2015-04-30
  • 【CCS分类】L54半导体二极管
  • 【ICS分类】31.080

SJ/T 11471-2014

发光二极管外延片测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2014-10-14
  • 【CCS分类】H83光通信设备
  • 【ICS分类】33.160

GB/T 15177-1994

微波检波、混频二极管 空白详细规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1994-08-20
  • 【CCS分类】L41
  • 【ICS分类】31.080.10

YD/T 0834-1996

分布反馈激光二极管检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-YD行业标准-邮电通信
  • 【发布日期】1996-04-04
  • 【CCS分类】M33
  • 【ICS分类】31.260

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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