硅片厚度和总厚度变化测试方法
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高新技术企业
GB/T 6618-2009
硅片厚度和总厚度变化测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 30867-2014
碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2014-07-24
- 【CCS分类】H83化合物半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 6618-1995
硅片厚度和总厚度变化测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-04-18
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 30869-2014
太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2014-07-24
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 29507-2013
硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-05-09
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
KS D 0259-2012(2022)
硅片厚度、厚度变化和弯曲的测量方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2012-05-17
- 【CCS分类】金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
ASTM F657-92(1999)
通过非接触式扫描测量硅晶片上的经纱和总厚度变化的标准测试方法（2003年退款）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】1999-01-01
- 【CCS分类】金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM D8136-17
使用非接触电容厚度计测定塑料膜厚度和厚度变化的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2017-09-01
- 【CCS分类】有机化工原料综合
- 【ICS分类】83.140.10薄膜和薄板
ASTM F533-96
硅片厚度和厚度变化的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2002-01-10
- 【CCS分类】包装方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F533-02
硅片厚度和厚度变化的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2002-01-10
- 【CCS分类】体育设施及器械
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F533-02a
硅晶片的厚度和厚度变化的标准测试方法（撤回2003）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2002-12-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 30857-2014
蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2014-07-24
- 【CCS分类】H21
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 40279-2021
硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-08-20
- 【CCS分类】H21
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
BS EN ISO 583:2007
带有织物骨架的传送带 皮带总厚度和本构元素厚度 测试方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2007-08-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体材料
ASTM F1530-94
用自动非接触扫描法测量硅片平整度和厚度变化的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】1994-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F1530-02
通过自动非接触扫描测量硅晶片的平面度 厚度和厚度变化的标准测试方法（2003年退款）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2002-12-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045其他有机化学品
GB/T 42674-2023
光学功能薄膜 微结构厚度测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】G15
- 【ICS分类】71.080.99包装材料和辅助物
GB/T 15717-2021
真空金属镀层厚度测试方法 电阻法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-10-11
- 【CCS分类】A83
- 【ICS分类】55.040其他有色金属及其合金
KS D 0259-2012(2017)
测量的厚度 厚度不均或弓硅片方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2012-05-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】77.120.99运动设施
TY/T 2003.2-2021
运动面层性能测试方法 第2部分：厚度
- 【发布单位或类别】 CN-TY行业标准-体育
- 【发布日期】2021-07-08
- 【CCS分类】Y55
- 【ICS分类】97.220.10
