硅片表面平整度测试方法

原创来源:北检院    发布时间:2025-01-12 12:59:22    点击数:

全国服务领域:河北、山西、黑龙江、吉林、辽宁、江苏、浙江、安徽、福建、江西、山东、河南、湖北、湖南、广东、海南、四川、贵州、云南、陕西、甘肃、青海、台湾、内蒙古、广西、西藏、宁夏、新疆、北京、天津、上海、重庆、香港、澳门

GB/T 6621-2009

硅片表面平整度测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-10-30
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 6621-1995

硅抛光片表面平整度测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1995-04-18
  • 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 19922-2005

硅片局部平整度非接触式标准测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2005-09-19
  • 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
  • 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合

GB/T 29507-2013

硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2013-05-09
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 32278-2015

碳化硅单晶片平整度测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-12-10
  • 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】77.040金属材料试验

SJ/T 10858-1996

玻璃及铬版表面平整度的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1996-11-20
  • 【CCS分类】L90电子技术专用材料
  • 【ICS分类】金属材料试验

GB/T 42789-2023

硅片表面光泽度的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-08-06
  • 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】77.040金属材料试验

GB/T 30860-2014

太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2014-07-24
  • 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】77.040金属材料试验

20231112-T-469

碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】77.040半导体材料

BS EN 29885:1994

宽口玻璃容器 顶部密封面平整度偏差 测试方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】1994-07-15
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】光电子学、激光设备

BS 8420:2003

使用直尺和楔子测量道路、人行道和其他铺砌区域表面不平整度的方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2003-11-22
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

UNE-EN 29885:1995

宽口玻璃容器 顶部密封面平整度偏差 测试方法 (ISO 9885:1991)

  • 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
  • 【发布日期】1995-05-24
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

UNE-EN 13036-7:2004

道路和机场表面特性.试验方法.第7部分:路面层不平整度测量:直尺试验

  • 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
  • 【发布日期】2004-05-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

UNE-EN 772-20:2001

砌块的试验方法.第20部分:集料混凝土、人造石和天然石砌块表面平整度的测定

  • 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
  • 【发布日期】2001-04-03
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

DIN EN 772-20

砌块的试验方法.第20部分:砌块表面平整度的测定;德文版EN 772-20:2000+A1:2005

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2005-05-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

ASTM F1530-94

用自动非接触扫描法测量硅片平整度和厚度变化的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】1994-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.045

ASTM F579-80(1987)e1

用光学非接触技术测定表面平整度的试验方法

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】1987-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS DD 227:1996

使用直尺和楔子测量道路、人行道和其他铺砌区域表面不平整度的方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】1996-04-15
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

ASTM F579-80(1987)

用光学非接触技术测定表面平整度的试验方法(1994年撤销)

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.260

ASTM F805-83(1992)E01

用干涉测量非接触技术测定感光板表面平整度的试验方法(1996年撤销)

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

以上是关于"硅片表面平整度测试方法"的介绍,如有其他问题可以咨询工程师为您服务!

实验室仪器

实验室仪器

荣誉资质

荣誉资质

硅片表面平整度测试方法

© 2024 北检(北京)检测技术研究院 ALL RIGHTS RESERVED