硅片表面平整度测试方法
原创来源:北检院 发布时间:2025-01-12 12:59:22 点击数:
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硅片表面平整度测试方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2009-10-30
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【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
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【ICS分类】29.045半导体材料
硅抛光片表面平整度测试方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1995-04-18
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【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
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【ICS分类】29.045半导体材料
硅片局部平整度非接触式标准测试方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2005-09-19
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【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2013-05-09
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【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
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【ICS分类】29.045半导体材料
碳化硅单晶片平整度测试方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2015-12-10
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【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
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【ICS分类】77.040金属材料试验
玻璃及铬版表面平整度的测试方法
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【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
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【发布日期】1996-11-20
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【CCS分类】L90电子技术专用材料
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【ICS分类】金属材料试验
硅片表面光泽度的测试方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2023-08-06
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【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
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【ICS分类】77.040金属材料试验
太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2014-07-24
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【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
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【ICS分类】77.040金属材料试验
碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】77.040半导体材料
宽口玻璃容器 顶部密封面平整度偏差 测试方法
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】1994-07-15
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【CCS分类】
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【ICS分类】光电子学、激光设备
使用直尺和楔子测量道路、人行道和其他铺砌区域表面不平整度的方法
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2003-11-22
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【CCS分类】
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【ICS分类】
宽口玻璃容器 顶部密封面平整度偏差 测试方法 (ISO 9885:1991)
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【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
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【发布日期】1995-05-24
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【CCS分类】
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【ICS分类】
道路和机场表面特性.试验方法.第7部分:路面层不平整度测量:直尺试验
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【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
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【发布日期】2004-05-28
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【CCS分类】
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【ICS分类】
砌块的试验方法.第20部分:集料混凝土、人造石和天然石砌块表面平整度的测定
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【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
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【发布日期】2001-04-03
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【CCS分类】
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【ICS分类】
砌块的试验方法.第20部分:砌块表面平整度的测定;德文版EN 772-20:2000+A1:2005
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【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
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【发布日期】2005-05-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】
用自动非接触扫描法测量硅片平整度和厚度变化的标准试验方法
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】1994-01-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】29.045
用光学非接触技术测定表面平整度的试验方法
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】1987-01-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】
使用直尺和楔子测量道路、人行道和其他铺砌区域表面不平整度的方法
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】1996-04-15
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【CCS分类】
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【ICS分类】
用光学非接触技术测定表面平整度的试验方法(1994年撤销)
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.260
用干涉测量非接触技术测定感光板表面平整度的试验方法(1996年撤销)
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】
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【CCS分类】
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【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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