半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 24468-2009
半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-15
- 【CCS分类】L85电子测量与仪器综合
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
20231190-T-469
半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.030电子技术专用材料
