酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定-多晶硅表面金属杂质
原创来源:北检院 发布时间:2025-01-12 21:27:36 点击数:
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酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定 多晶硅表面金属杂质
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2009-10-30
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【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
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【ICS分类】29.045半导体材料
多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2023-08-06
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【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
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【ICS分类】77.040金属材料试验
电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2018-12-28
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【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
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【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
多晶硅用三氯氢硅杂质元素含量测定 电感耦合等离子体质谱法
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【发布单位或类别】 CN-DB53云南省地方标准
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【发布日期】2013-08-01
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【CCS分类】G10无机化工原料综合
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【ICS分类】71.040.40化学分析
多晶硅生产用氢气中金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2022-02-28
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【CCS分类】半金属及半导体材料分析方法
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
多晶硅用氯硅烷中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2019-02-13
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【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
多晶硅生产净化氢气用活性炭中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
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【发布单位或类别】 CN-DB15内蒙古自治区地方标准
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【发布日期】2017-09-10
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【CCS分类】H17金属化学分析方法
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【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2020-05-27
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【CCS分类】H10/19
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
多晶硅生产尾气净化用活性炭中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2021-03-19
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【CCS分类】
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【ICS分类】65.020.01农业和林业综合
检测流程
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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