半导体器件-第10部分：分立器件和集成电路总规范
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-14 10:21:17 点击数：
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GB/T 4589.1-2006
半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-10-10
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
GB/T 17573-1998
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-08-23
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 4023-2015
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-31
- 【CCS分类】K46电力半导体器件、部件
- 【ICS分类】31.080.10二极管
GB/T 43035-2023
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 15651-1995
半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-07-24
- 【CCS分类】L50光电子器件综合
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
GB/T 17574.20-2006
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L50光电子器件综合
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
KS C IEC 60747-10-2004(2015)
半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2004-08-13
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 20870.10-2023
半导体器件 第16-10部分：单片微波集成电路技术可接收程序
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574.10-2003
半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L56光电子器件综合
- 【ICS分类】31.200光电子学、激光设备
GB/T 15651.2-2003/IEC 60747-5-2:1997
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L50光电子器件综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 15651.2-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L50半导体集成电路
- 【ICS分类】31.260集成电路、微电子学
GB/T 18500.2-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器（ADC）空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2001-11-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60747-10:1991/AMD3:1996
修改件3.半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路总规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1996-08-23
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 18500.1-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器（DAC）空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2001-11-05
- 【CCS分类】L56半导体二极管
- 【ICS分类】31.200二极管
GB/T 17572-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
GB/T 4023-1997
半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1997-10-07
- 【CCS分类】L41
- 【ICS分类】31.080.10
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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