硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量X射线光电子能谱法

原创来源：北检院    发布时间：2025-01-14 18:41:11    点击数：

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检测流程

1、确认客户委托，寄样。

2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议，进行试验。

5、完成试验，确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示：暂不接受个人委托测试

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