无损检测-X射线应力测定方法

原创来源:北检院    发布时间:2025-01-15 12:51:55    点击数:

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GB/T 7704-2017

无损检测 X射线应力测定方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2017-10-14
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

GB/T 7704-2008

无损检测 X射线应力测定方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2008-07-30
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

GB/T 32073-2015(\u82f1\u6587\u7248)

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-10-09
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】无损检测

GB/T 7704-1987

X射线应力测定方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1987-05-04
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

JB/T 9394-2011

无损检测仪器 X射线应力测定仪技术条件

  • 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
  • 【发布日期】2011-12-20
  • 【CCS分类】N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
  • 【ICS分类】19.100无损检测

GB/T 39427-2020

无损检测 工业Ir192伽玛射线源尺寸测定方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2020-11-19
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

JB/T 13156-2017

无损检测 工业射线照相底片光学密度的测定方法

  • 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
  • 【发布日期】2017-04-12
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

EN 15305:2008/AC:2009

无损检测 - X射线衍射残余应力分析试验方法

  • 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
  • 【发布日期】2009-01-28
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

EN 15305:2008

无损检测 - X射线衍射残余应力分析试验方法

  • 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
  • 【发布日期】2008-08-13
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

UNE-EN 15305:2010

无损检测.用X射线衍射进行残余应力分析的试验方法

  • 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
  • 【发布日期】2010-01-05
  • 【CCS分类】机械综合
  • 【ICS分类】无损检测

BS EN 15305:2008

无损检测 用X射线衍射法进行残余应力分析的试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2009-06-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】无损检测

DIN EN 15305

无损检测.用X射线衍射进行残余应力分析的试验方法

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2009-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN ISO 21432:2020

无损检测 用中子衍射测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2020-11-19
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS ISO 21432:2019

无损检测 用中子衍射测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2019-12-13
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

KS B ISO 21432-2023

无损检测用中子衍射法测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2023-08-21
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】19.100

BS 05/30137047 DC

EN 15305 无损检测 用X射线衍射法进行残余应力分析的试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2005-07-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

KS B ISO TS 21432-2017(2022)

无损检测.用中子衍射法测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2017-12-29
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】19.100

EN ISO 21432:2020

无损检测.中子衍射测定残余应力的标准试验方法(ISO 21432-2019)

  • 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
  • 【发布日期】2020-09-23
  • 【CCS分类】J00/09
  • 【ICS分类】19.100

DIN EN ISO 21432

无损检测.用中子衍射测定残余应力的标准试验方法(ISO 21432-2019)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2021-05-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS DD CEN ISO/TS 21432:2005

无损检测 用中子衍射测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2008-06-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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实验室仪器

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