硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 26068-2010
硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2011-01-10
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 26068-2018
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
ASTM F1535-00
微波反射光电导衰减非接触式测量硅晶片载体重组寿命的标准测试方法（2003年）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2000-06-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
