硅单晶退火片

2025-01-16 13:50:34 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

CNAS认可证书

ISO认证

ISO认证

高新技术企业

高新技术企业

GB/T 26069-2022

硅单晶退火片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2022-03-09
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 12964-2018

硅单晶抛光片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-09-17
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 30656-2023

碳化硅单晶抛光片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-03-17
  • 【CCS分类】H83化合物半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 12965-2018

硅单晶切割片和研磨片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-09-17
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 26065-2010

硅单晶抛光试验片规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2011-01-10
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 29506-2013

300mm 硅单晶抛光片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2013-05-09
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

YS/T 1167-2016

硅单晶腐蚀片

  • 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
  • 【发布日期】2016-07-11
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 29508-2013

300mm 硅单晶切割片和磨削片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2013-05-09
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 41325-2022

集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2022-03-09
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 31351-2014

碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2014-12-31
  • 【CCS分类】H26金属无损检验方法
  • 【ICS分类】77.040.99金属材料的其他试验方法

SJ/T 11502-2015

碳化硅单晶抛光片规范

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2015-04-30
  • 【CCS分类】H83化合物半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 12964-2003

硅单晶抛光片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2003-06-16
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 30656-2014

碳化硅单晶抛光片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2014-12-31
  • 【CCS分类】H83化合物半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 12964-1996

硅单晶抛光片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1996-11-04
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 12965-2005

硅单晶切割片和研磨片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2005-09-19
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

SJ/T 11504-2015

碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2015-04-30
  • 【CCS分类】H83化合物半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

SJ/T 11503-2015

碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2015-04-30
  • 【CCS分类】H83化合物半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 12965-1996

硅单晶切割片和研磨片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1996-11-04
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 26071-2010

太阳能电池用硅单晶切割片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2011-01-10
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

YB 1603-1983

硅单晶切割片和研磨片

  • 【发布单位或类别】 CN-YB行业标准-黑色冶金
  • 【发布日期】1983-08-18
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】