无损检测-测量残余应力的中子衍射方法

2025-01-16 17:13:48 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

CNAS认可证书

ISO认证

ISO认证

高新技术企业

高新技术企业

GB/T 26140-2023

无损检测 残余应力测量的中子衍射方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-05-23
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

GB/T 26140-2010

无损检测 测量残余应力的中子衍射方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2011-01-14
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

GB/T 32073-2015(\u82f1\u6587\u7248)

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-10-09
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】无损检测

GB/T 33210-2016

无损检测 残余应力的电磁检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2016-12-13
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

BS EN ISO 21432:2020

无损检测 用中子衍射测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2020-11-19
  • 【CCS分类】机械综合
  • 【ICS分类】无损检测

BS ISO 21432:2019

无损检测 用中子衍射测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2019-12-13
  • 【CCS分类】基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】无损检测

KS B ISO 21432-2023

无损检测用中子衍射法测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2023-08-21
  • 【CCS分类】基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】19.100无损检测

KS B ISO TS 21432-2017(2022)

无损检测.用中子衍射法测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2017-12-29
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】19.100无损检测

EN ISO 21432:2020

无损检测.中子衍射测定残余应力的标准试验方法(ISO 21432-2019)

  • 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
  • 【发布日期】2020-09-23
  • 【CCS分类】J00/09
  • 【ICS分类】19.100无损检测

DIN EN ISO 21432

无损检测.用中子衍射测定残余应力的标准试验方法(ISO 21432-2019)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2021-05-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】无损检测

EN 15305:2008/AC:2009

无损检测 - X射线衍射残余应力分析试验方法

  • 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
  • 【发布日期】2009-01-28
  • 【CCS分类】J04
  • 【ICS分类】19.100无损检测

EN 15305:2008

无损检测 - X射线衍射残余应力分析试验方法

  • 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
  • 【发布日期】2008-08-13
  • 【CCS分类】J04
  • 【ICS分类】19.100无损检测

20232640-T-469

无损检测 基于逆磁致伸缩效应的残余应力检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】19.100

20240874-T-469

无损检测 测量残余应力的超声检测方法 第2部分:体波法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2024-04-25
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】19.100

20240870-T-469

无损检测 测量残余应力的超声检测方法 第1部分:临界折射纵波法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2024-04-25
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】19.100

UNE-EN 15305:2010

无损检测.用X射线衍射进行残余应力分析的试验方法

  • 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
  • 【发布日期】2010-01-05
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN 15305:2008

无损检测 用X射线衍射法进行残余应力分析的试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2009-06-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

DIN EN 15305

无损检测.用X射线衍射进行残余应力分析的试验方法

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2009-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS DD CEN ISO/TS 21432:2005

无损检测 用中子衍射测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2008-06-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

ISO/TS 21432:2005

无损检测——用中子衍射测定残余应力的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2005-07-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】19.100