光学和光子学-光学薄膜-第1部分：术语
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-17 02:40:42 点击数：
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GB/T 26332.1-2024
光学和光子学 光学薄膜 第1部分：术语
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-09-29
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 26332.1-2018
光学和光子学 光学薄膜 第1部分：定义
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 26332.8-2022
光学和光子学 光学薄膜 第8部分：激光光学薄膜基本要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-10-12
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 26332.2-2015
光学和光子学 光学薄膜 第2部分：光学特性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 26332.6-2022
光学和光子学 光学薄膜 第6部分：反射膜基本要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-10-12
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 26332.3-2015
光学和光子学 光学薄膜 第3部分：环境适应性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 26332.5-2022
光学和光子学 光学薄膜 第5部分：减反射膜基本要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-10-12
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 26332.4-2015
光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 26332.7-2022
光学和光子学 光学薄膜 第7部分：中性分束膜基本要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-10-12
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 41869.1-2022
光学和光子学 微透镜阵列 第1部分：术语
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-10-12
- 【CCS分类】L51激光器件
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
GB/T 12085.1-2022
光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-10-12
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】37.020光学设备
GB/T 41869.3-2024
光学和光子学 微透镜阵列 第3部分：光学特性测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-11-28
- 【CCS分类】L51激光器件
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
GB/T 12085.12-2022
光学和光子学 环境试验方法 第12部分：污染
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-10-12
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】37.020光学设备
20242308-T-604
光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-07-25
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
ISO 9211-1:2024
光学和光子学光学涂层第1部分:词汇
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2024-02-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】37.020光学设备
ISO 9211-2:2024
光学和光子学光学涂层第2部分:光学性能
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2024-02-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】37.020光学设备
KS B ISO TR 14999-1-2011(2021)
光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第1部分:术语、定义和基本关系
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2011-12-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】37.020光学设备
KS B ISO TR 14999-1-2011(2016)
光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第1部分:术语、定义和基本关系
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2011-12-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】37.020光学设备
ISO 10110-1:2019
光学和光子学 - 光学元件和系统图纸准备第1部分:总则
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2019-10-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】37.020光学设备
KS B ISO 10110-1-2017
光学和光子学 - 光学元件和系统图纸准备第1部分:总则
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2017-09-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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